Например TDA7294

Форум РадиоКот • Просмотр темы - Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
Форум РадиоКот
Здесь можно немножко помяукать :)





Текущее время: Пт мар 29, 2024 07:43:12

Часовой пояс: UTC + 3 часа


ПРЯМО СЕЙЧАС:



Начать новую тему Ответить на тему  [ Сообщений: 7 ] 
Автор Сообщение
Не в сети
 Заголовок сообщения: Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
СообщениеДобавлено: Чт янв 18, 2018 15:23:02 
Вымогатель припоя
Аватар пользователя

Карма: 5
Рейтинг сообщений: 16
Зарегистрирован: Пн авг 27, 2012 10:38:20
Сообщений: 556
Откуда: Москва
Рейтинг сообщения: 0
Добрый день.

Есть некое диагностическое устройство, со сменными картриджами нескольких типов. Один из таких картриджей содержит в себе две микросхемы флеш-памяти AT49F080. Устройство не новое. Со временем обнаружено, что с установленным картриджем устройство не стартует - на 4-х строчном LCD дисплее 1-я и 3-я строка залита квадратиками. Вынимаешь картридж - старт нормальный.

Выпаял одну микросхему - старт нормальный, правда, информация с картриджа не читается. Сунул флешку в программатор - не читается, сплошные FF. Выпаял вторую микросхему, "почти" не читается, чередуются EF. Неконтакт ножек с панелькой исключаю, проверено неоднократно, в разных вариантах.

Возник вопрос, это действительно флешка ёкнулась? Причем обе. По какой причине? Переполюсовка питания исключена, картридж иначе не вставишь в устройство.


Вернуться наверх
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
СообщениеДобавлено: Чт янв 18, 2018 15:31:11 
Собутыльник Кота
Аватар пользователя

Карма: 54
Рейтинг сообщений: 452
Зарегистрирован: Вт сен 25, 2012 23:13:41
Сообщений: 2757
Откуда: г.Дзержинск Нижегородской обл.
Рейтинг сообщения: 0
Цитата:
Возник вопрос, это действительно флешка ёкнулась? Причем обе. По какой причине?

Угу, "ёкнулась". На счет причин - Вам видней: статика, переполюсовка, частая перезапись, ионизирующее излучение.

_________________
Спасение утопающих дело рук самих утопающих.


Вернуться наверх
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
СообщениеДобавлено: Чт янв 18, 2018 15:33:17 
Друг Кота
Аватар пользователя

Карма: 123
Рейтинг сообщений: 7955
Зарегистрирован: Сб сен 13, 2014 16:27:32
Сообщений: 39199
Откуда: СпиртоГонск созвездия Омега
Рейтинг сообщения: 0
а перепрощить заново и верификацию запустить а не спрашивать чушь не проше??? сразу ясно станет сдохла или стерлась
чипыто у вас ка мы можем знать слетела прошивкаили ее затерло в схеме например вирусром или кривыми ручками юзероф ...
у меня был случай стирания 27с020(UV) при долгом хранени на складе рядом с дозиметром с-стерлась за несколко лет до FF кстати вторая 27512 без окна(черная) тожа стерлась но не совсем но она лежала подалше от дозиметра(тамэталон-калибраторимелся)
так что допускаю что если прибор МЕД и стоит в ренгенкабинетах или летает в космос надо было озаботится СВИНЦОВЫМИ ШТАНАМИ

_________________
ZМудрость(Опыт и выдержка) приходит с годами.
Все Ваши беды и проблемы, от недостатка знаний.
Умный и у дурака научится, а дураку и ..
Алберт Ейнштейн не поможет и ВВП не спасет.и МЧС опаздает


Вернуться наверх
 
PCBWay - всего $5 за 10 печатных плат, первый заказ для новых клиентов БЕСПЛАТЕН

Сборка печатных плат от $30 + БЕСПЛАТНАЯ доставка по всему миру + трафарет

Онлайн просмотровщик Gerber-файлов от PCBWay + Услуги 3D печати
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
СообщениеДобавлено: Чт янв 18, 2018 15:45:45 
Вымогатель припоя
Аватар пользователя

Карма: 5
Рейтинг сообщений: 16
Зарегистрирован: Пн авг 27, 2012 10:38:20
Сообщений: 556
Откуда: Москва
Рейтинг сообщения: 0
а перепрощить заново и верификацию запустить а не спрашивать чушь не проше???

Чушь - это читать тексты между строк. Если бы прошивки коммерческих изделий были в свободном доступе, вопроса бы не возникло.


Вернуться наверх
 
Сравнительное тестирование аккумуляторов EVE Energy и Samsung типоразмера 18650

Инженеры КОМПЭЛ провели сравнительное тестирование аккумуляторов EVE и Samsung популярного для бытовых и индустриальных применений типоразмера 18650. Для теста были выбраны аккумуляторы литий-никельмарганцевой системы: по два образца одного наименования каждого производителя – и протестированы на двух значениях тока разряда: 0,5 А и 2,5 А. Испытания проводились в нормальных условиях на электронной нагрузке EBD-USB от ZKEtech, а зарядка осуществлялась от лабораторного источника питания в режиме CC+CV в соответствии с рекомендациями в даташите на определенную модель.

Подробнее>>
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
СообщениеДобавлено: Чт янв 18, 2018 16:03:16 
Друг Кота
Аватар пользователя

Карма: 123
Рейтинг сообщений: 7955
Зарегистрирован: Сб сен 13, 2014 16:27:32
Сообщений: 39199
Откуда: СпиртоГонск созвездия Омега
Рейтинг сообщения: 0
насколко знаю паралелки нельзя зашитить от чтения(это не мк) поэтому бреем tit живого донора живьем препарируем ,читаем сценарий и пищем оперу,клонируем

Добавлено after 1 minute 20 seconds:
хотя в доках и обечают 50лет хранения...я сказкам не когда не верил но биос лет 5 не слетает-эт точно если не вирусня

_________________
ZМудрость(Опыт и выдержка) приходит с годами.
Все Ваши беды и проблемы, от недостатка знаний.
Умный и у дурака научится, а дураку и ..
Алберт Ейнштейн не поможет и ВВП не спасет.и МЧС опаздает


Вернуться наверх
 
Новый аккумулятор EVE серии PLM для GSM-трекеров, работающих в жёстких условиях (до -40°С)

Компания EVE выпустила новый аккумулятор серии PLM, сочетающий в себе высокую безопасность, длительный срок службы, широкий температурный диапазон и высокую токоотдачу даже при отрицательной температуре. Эти аккумуляторы поддерживают заряд при температуре от -40/-20°С (сниженным значением тока), безопасны (не воспламеняются и не взрываются) при механическом повреждении (протыкание и сдавливание), устойчивы к вибрации. Они могут применяться как для автотранспорта (трекеры, маячки, сигнализация), так и для промышленных устройств мониторинга, IoT-устройств.

Подробнее>>
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
СообщениеДобавлено: Чт янв 18, 2018 17:37:28 
Друг Кота
Аватар пользователя

Карма: 58
Рейтинг сообщений: 1958
Зарегистрирован: Чт янв 26, 2012 16:44:29
Сообщений: 16011
Откуда: Таксимо
Рейтинг сообщения: 0
А они вообще с защитой, без?


Вернуться наверх
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Надежность микросхем flash-памяти, в частности AT49F080
СообщениеДобавлено: Пт янв 19, 2018 11:19:36 
Друг Кота
Аватар пользователя

Карма: 93
Рейтинг сообщений: 1349
Зарегистрирован: Вт мар 16, 2010 22:02:27
Сообщений: 14020
Откуда: ДОНЕЦК
Рейтинг сообщения: 0
Внимательно читать даташитки (насчет защит и прочих "досадных мелочей")...
Причин для всякобяко может быть великое множество.
В случае с серъёзным оборудованием - обращаться к изготовителю.
:(


Вернуться наверх
 
Показать сообщения за:  Сортировать по:  Вернуться наверх
Начать новую тему Ответить на тему  [ Сообщений: 7 ] 

Часовой пояс: UTC + 3 часа


Кто сейчас на форуме

Сейчас этот форум просматривают: misir и гости: 21


Вы не можете начинать темы
Вы не можете отвечать на сообщения
Вы не можете редактировать свои сообщения
Вы не можете удалять свои сообщения
Вы не можете добавлять вложения

Найти:
Перейти:  


Powered by phpBB © 2000, 2002, 2005, 2007 phpBB Group
Русская поддержка phpBB
Extended by Karma MOD © 2007—2012 m157y
Extended by Topic Tags MOD © 2012 m157y